1.
المؤلف: جنکینز،رن ،- 1932
المکتبة: کتابخانه ۱۳ آبان (کتابخانه های سازمان فرهنگی هنری شهرداری تهران) (طهران)
موضوع: ،اشعه ایکس - پراش سنج، , ،اشعه ایکس - پراش،
رده :
54
9/
1
ج
718
2. درآمدی بر بلورشناسی اشعه X و دستگاه XRD
المؤلف: /کامران احمدی، محمدحسن صرافی.,احمدی ج‍زی
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع: بلورشناسی با اشعه ایکس,اشعه ايكس , -- پراش سنج
رده :
QD
۹۴۵
/
الف
۳
د
۴ ۱۳۸۹
3. روشهای پیشرفته شناخت مواد
المؤلف: / گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا.,سجادی
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ايكس ,اشعه ایکس ,میکروسکوپهای الکترونی, -- پراش سنج ,-- کاربردهای صنعتی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
4. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه ای بر روش های میکروسکوپی. طیف سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: گردآوری عبدالکریم سجادی? فرهاد صبا ,,سجادی? عبدالکریم. 1341 -
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد شهيد مطهري دانشگاه رازى (کرمانشاه)
موضوع: شیمی تجزیه تجزیه دستگاهی طیف سنجی اشعه ایکس -- پراش سنج اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی
رده :
QD
75/2
/
س
3
ر
9
5. روشهای پیشرفته شناخت مواد: : مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: (سمنان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
6. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
،۷۵
/
۲،
/
س
۳
ر
۹،۱۳۹۲
7. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: / گردآوری عبدالکریم سجادی و فرهاد صبا
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه‌ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۱
8. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
9. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: / گردآوری: عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳،
ر
۹
10. روشهای پیشرفته شناخت مواد : مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: المکتبۀ المرکزیۀ ومرکز التوثیق (سمنان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
11. مقدمه ای بر : شناخت مواد بکمک دیفراکتومتری اشعه ایکس ) پراش سنجی پرتوهای ایکس - روش پ .در(
المؤلف: Jenkins .R ,Vries de .L ,J؛ ترجمه احمد خاکزاد؛ جهندار رمضانی
المکتبة: (طهران)
موضوع: پراش سنج اشعه ایکس
رده :
QC
482
/
پ
4
ج
718
1368
12. #مقدمه ای بر: شناخت مواد بکمک دیفراکتومتری اشعه ایکس : )پراش سنجی پرتوهای ایکس - روش پودر(
پدیدآورنده : #Jenkins, Ron
موضوع : اشعه ایکس - پراش سنج ،اشعه ایکس - پراش
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
13. مقدمه‌ای بر: شناخت مواد بکمک دیفراکتومتری اشعه ایکس: (پراش سنجی پرتوهای ایکس - روش پودر)
المؤلف: / [نوشته رن جنکینز، جی. ال. دی ورایز]
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- پراش
رده :
QC
۴۸۲
/
پ
۴
ج
۹ ۱۳۶۹
14. مقدمه‌اي بر: شناخت مواد بکمک ديفراکتومتري اشعه ايکس( :پراش سنجي پرتوهاي ايکس - روش پودر)
المؤلف: نوشته رن جنکينز, جي ال دي ورايز, ترجمه احمد خاکزاد, جهاندار رمضاني,شناخت مواد بکمک ديفراکتومتري اشعه ايکس
المکتبة: كتابخانه عمومي تربيت (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: اشعه ايکس - پراش سنج اشعه ايکس - پراش
رده :
549
/1
ج
718
م
15. مقدمه‌اي برشناخت مواد بکمک ديفراکتومتري اشعه ايکس (پراش سنجي پرتوهاي ايکس - روش پودر)
المؤلف: / J. L. de Vries, R. Jenkins
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الأرشيف (طهران)
موضوع: اشعه ايکس - پراش سنج,اشعه ايکس - پراش
رده :
۵۴۹
/
۱
ج
۷۱۸
م
۱۳۶۸
